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更新日期：2024-03-21
簡要描述：
日本shinkuu SEM樣品的金屬鍍膜裝置MSP-1S該設(shè)備是用于SEM觀察的貴金屬薄膜鍍膜設(shè)備。它是一種執(zhí)行貴金屬涂層以防止 SEM 樣品充電并提高二次電子產(chǎn)生效率的設(shè)備。
日本shinkuu SEM樣品的金屬鍍膜裝置MSP-1S
該設(shè)備是用于SEM觀察的貴金屬薄膜鍍膜設(shè)備。它是一種執(zhí)行貴金屬涂層以防止 SEM 樣品充電并提高二次電子產(chǎn)生效率的設(shè)備。除了通過磁控管靶電極進(jìn)行低壓放電外，樣品臺制成浮動(dòng)式，以減少由于電子束流入造成的樣品損壞。操作簡單，按一下按鈕，沒有技巧。它很小，不占用空間。在桌子的角落里很有用。
用于 SEM 樣品的金屬鍍膜裝置。
日本shinkuu SEM樣品的金屬鍍膜裝置MSP-1S
| 物品 | 規(guī)格 |
| 電源 | AC100V（單相100V10A）3P插頭1口帶地 |
| 旋轉(zhuǎn)泵 | 10L/min（設(shè)備內(nèi)置） |
| 設(shè)備尺寸 | 寬 200 毫米 x 深 350 毫米 x 高 345 毫米 （設(shè)備重量：14.6 公斤） |
| 樣品室尺寸 | 內(nèi)徑 120 毫米 x 高 65 毫米（硬玻璃） |
| 樣本表大小 | 直徑50毫米（浮動(dòng)法） |
| 電極樣品臺間距 | 35 mm（使用輔助樣品臺時(shí)為 25 mm） |
| 靶電極 | 內(nèi)置永磁體的磁控管型靶電極 |
| 目標(biāo)金屬規(guī)格 | Φ51 mm, 厚度 0.1 mm Pt, Pt-Pd, Au, Au-Pd, Ag |
